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    SunScan植物冠層分析儀在測量大豆葉面積指數中的應用

    點擊次數:902發布時間:2018-12-21

    SunScan植物冠層分析儀是一種利用間接測量法觀測葉面積指數(LAI)的儀器,通過給定反映植被幾何特征的橢球體葉傾角分布參數(ELADP),測量透射率獲得LAI。于2005、2006年在黑龍江省嫩江縣鶴山農場布設大豆試驗地,通過比較LI-3100葉面積儀直接測量的LAI和SunScan冠層分析儀間接測量的LAI,得出ELADP率定結果,并驗證了SunScan冠層分析儀測量LAI的精度。結果表明:用SunScan測量大豆冠層LAI時,ELADP取值為4.0;設定該參數后,SunScan測量的LAI與LI-3100測量結果一致,二者擬合的線性回歸方程顯著;隨生長季葉面積的變化,SunScan測量誤差略有變化;播種后50~85d,Sun—Scan觀測值偏低7.2%,播種96d以后觀測值偏高12.5%,播種后85~96d與LI-3100觀測值十分接近,誤差只有2.0%;經過參數率定后的SunScan測量LAI效果較好。

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